Hst 7: Scanning probe microscopy Flashcards
Geef voobeelden van scanning probe microscopy
- SNOM: scanning near-field optical microscopy:
Een optische probe zeer dicht bij de staal brengen , en staal belichten. Vervolgens staal afscannen en near field componentdetecteren
STM: scanning Tunneling microscopy:
- er is een elektrische stroom tussen het staal en de probe. De staal is geleidbaar, zodat er een readout kan gedaan worden
- > geen biologische stalen mogelijk
- je hebt atomaire resolutie, en je kan uw staal atomair beginnen bewegen
- AFM: atomic force microscopy: fysieke interacties meten. Op atomaire niveau, en levende stalen mogelijk.
No vacuum no current, weak forces
> biological samples
Bespreek atomic-force microscopy
gebaseerd op de fysieke interactie tussen het staal en de probe.
->Geen nood aan geleidende staal -> dus wél organische stalen mogelijk
De probe zal net wél/niet contact maken met de staal.
Contact mode:
Hoogte wordt gemeten, tot op atomen nauwkeurig
probleem: probe verplaats onderdelen van de structuur omdat het erover heen wordt gesleurd
Non-contact mode:
er zijn vanderwaals krachten , die zich manifesteren wanneer de probe heel vlakbij is -> deze kunnen geregistreerd worden.
probleem:
er is vermindede resoluie
oplossing: tapping mode waarbij hoogte en vanderwaalskrachten worden gemeten
Bespreek Scanning tunneling microscopy
Gebaseerd op de geleidbaarheid van de staal ( = niet toepasbaar voor biologische stalen)
:Een elektrische stroom tussen het staal en de probe
- geeft beeld over het opp, en de atomische opbouw van het structuur
- je kan met deze techniek ook specifieke atomen oppakken, en verplaatsen
Bespreek hoe je de nadelen van contact of non-contact modus van atomic force microscopie kan aanpakken
Door de best of both worlds toe te passen:
Tapping mode!
resolutie in tussen beide methodes
Bespreek de interactie schema van de probe tip
Vlak boven de staal oscilleren . Door wisseling in de frequentie van de probe, kan je hoogte schatten
Het schema geeft beeld over welke interacties er zijn, wanneer de tapping methode wordt gebruikt
(lees de grafiek van rechts naar links)
A. wanneer de tip naar de staal wordt gebracht, is er tot een bepaalde afstand nog geen vanderwaals krachten te detecteren
B. op een bepaald moment is de probe zeer dichtbij , en het staal zuigt de probe dichtbij door Vanderwaals aantrekkingskrachten
C. er is een sterke repulsie , en de probe wordt weggeduwd
D. er er terug aantrekking door Vanderwaals aantrekkingskrachten
E. probe springt los: stukje E geeft u een idee over de aantrekkingskracht
Kan atomic force microscopy AFM functioneel gemaakt worden?
Ja, de probe kan functioneel gemaakt worden door een ligand/antilichaam op te hangen ->moleculaire interacties meten mogelijk, want wanneer probe de juiste molecule vindt, zullen de interacties hoger worden
Op welke detectie methode zijn contact, non-contact en tapping mode gebaseerd?
Atomic force microscopy:
-contact: hoogte verschil door probe over de staal te sleuren
- non-contact mode: door vanderwaalskrachten (deze manifesteren zich wanneer de probe heel dicht bij de staal is)
- tapping mode: hoogtes en vanderwaalskrachten
