Oxidação termica Flashcards

1
Q

Propriedades do Oxido de silício

A

-É amorfo
-Estável, reproduzivel
-excelente isolante elétrico

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2
Q

Aplicações do Oxido de silício

A

-Passivação da superfície
-Máscara de dopante
-Dieletrico de superfície
-Dielétrico de dispositivos

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3
Q

Passivação da superfície

A

-Proteção da amostra
-Barreira de contaminação
-Proteção de riscos durante o fabrico

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4
Q

Barreira de Difusão

A

-O oxido pode ser utilizado como mascara de difusão
-Tem coeficiente de expansão parecido ao do silício, para que a amostra não curve

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5
Q

Dielétrico de Superfície

A

-O oxido de silicio é um dielétrico(não conduz eletricidade)
-Deve ser contínio(sem buracos ou falhas) e com espessura suficiente para previnir indução

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6
Q

Dielétrico de dispositivos

A

Nas aplicações em MOS, uma camada fina de oxido existe na região de gate
-A espessura é escolhida espicificamente para permitir indução das cargas na região debaixo do oxido.

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7
Q

Tipos de Oxidação

A

-Oxidação Térmica
-Oxidação a alta pressão
-Oxidação Anódica

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8
Q

Oxidação térmica

A

O silicio é oxidado por oxigénio ou vapor a altas temperaturas. Pode ser dry ou wet

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9
Q

Dry oxidation

A

-Excelente isolante para oxidos de gates
-Gás de oxigénio não pode ser contaminado por vapor de água(aumenta a taxa de oxidação e a camada de oxidação fica com as especificações erradas)

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10
Q

Wet oxidation

A

-Bom isolante para máscaras ou oxidos de campo
-Oxidação mais rápida
-Menos denso que dry oxidation
-Pode ser removida por tratamento térmico
-10x mais rápida que dry oxidation

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11
Q

Equipamento para oxidação

A

-Fornalha horizontal
-RTP(rapid thermal processing)

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12
Q

RTP

A

-Permite aquecer e arrefecer a temperatura das wafers muito rapidamente
-Baseado no aquecimento por radiação
-Util para oxidos finos usados na Gate dos MOS

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12
Q

RTP

A

-Permite aquecer e arrefecer a temperatura das wafers muito rapidamente
-Baseado no aquecimento por radiação
-Util para oxidos finos usados na Gate dos MOS

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13
Q

High Pressure oxidation

A

Permite reduzir a temperatura de oxidação sem que o tempo de oxidação aumente
-Maior força dielétrica que oxidos crescidos a pressões atmosféricas

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14
Q

Orientação da wafer

A

-Mais atomos, mais rápido é o crescimento do óxido(111)

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15
Q

Efeito da dopagem

A
  • O óxido é sempre dopado.
    -O dopante tb pode estar presente no si por difusão ou implantação iónica
    -O crescimento do óxido é influenciado pelo elemento dopante usado
16
Q

Segregação de dopante

A

-A distribuição de dopante no silicio depois da oxidação altera as propriedades térmicas.
-Dopante tipo-n “come mais wafer

17
Q

Métodos para medir a espessura

A

-Profilometria
-elipsometria
-Cor

17
Q

RTP

A

-Permite aquecer e arrefecer a temperatura das wafers muito rapidamente
-Baseado no aquecimento por radiação
-Util para oxidos finos usados na Gate dos MOS