Kapitel 1 - Einführung Flashcards

1
Q

Was ist ein Mikrosystem? 2 Definitionen

A
  1. Ein Mikrosystem ist ein Gerät, dessen kleinste funktionale Bauteile in der Größenordnung zwischen 1 micro meter und 1mm liegen. 2. In einem Mikrosystem ist Mikroelektronik integriert mit mikromechanischen, mikroskopischen oder mikrofluidischen Komponenten.
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2
Q

Außnahmen der Mikrosystem Definition:

A
  1. Auch 1nm große Systeme sind Mikrosysteme. z.b. Schaltkreise 2. Auch ohne Elektronik kann ein System ein Mikrosystem sein. Bsp. Inhalationsspry mit Mikrodüse.
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3
Q

Definition vom Prof. :

A

Ein Mikrosystem enthält min 1 funktinale Komponente die kleiner als 1mm ist und wird mit einem Verfahren der Mikrotechnik hergestellt.

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4
Q

Verfahren der Mikrotechnik

A

Fotoloithografie Oberflächenmikromechanik Mikrofräsen anisotropes Siliziumätzen reaktives Ionenätzen PVD CVD

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5
Q

Subtraktive Verfahren

A

Ätzen / Auflösen Fräsen Erodieren Ablation

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6
Q

Additive Verfahren

A

PVD CVD Epitaxie Spin-coaten Galvanik Abformung Dotierung

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7
Q

Verbindende Verfahren

A

Anodisches Bonden Kleben Schweißen Löten Eutektisches Bonden

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8
Q

Grundmaterial der Mikroelektronik

A

Einkristallines Silizium

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9
Q

Was Unterscheidet einen Einkristall von einem Polykristall?

A

Ein Polykristall besteht aus mehreren Kristalliten, die an den Korngrenzen aneinander stoßen. In einem Einkristall sind Atome oder Moleküle in einem einyigen makroskopischen Kristallgitter angeordnet

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10
Q

Welches Kristallgitter hat Silizium?

A

tetragonal

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11
Q

Bezeichnungen der Kristallebenen

A

Millersche Indizes: Kehrwerte der Achsenabschnitte

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12
Q

Was ist ein Wafer?

A

Silizium-Scheibe als Standardsubstrat für die Elektronikindustrie. Primär Flat gibt Richtung der Kristallorientierung an Sekundär Flat gibt an, welche Kristallebene parallel zur Oberfläche liegt und wie der Wafer dotiert ist.

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13
Q

Anisotropie im Siliziumkristall erklären

A

Da die Anordnung der Atome von der Richtung im Kristsll abhängt sind viele Materialeogenschagten anisotrop. Z.b. geringere zugfestigkeit in [100] als in [111]

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14
Q

Einfluss der Richtung auf die Querdehnung

A

Querdehnung in [111] geringer als in [100]

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15
Q

Einfluss der Richtung auf den Piezoredistiven Koeffizienten ( elektrischen Widerstand)

A

S 52

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16
Q

Herstellungsprozess Silizium Einkristall

A
  1. SIO2 (Quarzsand) wird zu Silizium reduziert. SiO2 + 2 C -> Si + 2Co Lichtbogenofen 1800°C 2. Auflösen in Salzsäure bildet flüssiges Trichlorsilan Si + 3HCL -> SiHCL3 + H2 Kann durch Fraktionschef Destillation aufgereinigt werden. 3. Ausscheidung aus der Gasphase unter Wasserstofzufuhr 2SiHCl3 + 2 H2 -> 2 Si + 6 HALLO
17
Q

2 Verfahren zur Herstellung von Ein kristallen aus polykristalline Silizium. Gemeinsamkeit

A

Czochralski-Methode Float Zone Methode Bei beiden Verfahren wird ein kleiner Saatktistall mit der gewünschten Orientierung in flüssiges Silizium eingetaucht. Beim langsamen Abkühlen lagern sich die Atome am Schmelzkristall an und richten sich nach dessen Gitter aus.

18
Q

Czochralski Methode

A

-

19
Q

Float-Zone-Methode

A

Nur bis dm von 15cm

20
Q

Weiterverarbeitung zum Wafer

A
  1. Rundschleifen auf Maß 2. Wafer vereinzeln Mit innenlochsäge oder Diamantschneideband 3. Randbearbeitung (Rundschleifen gegen Brechen)
21
Q

Wie dick sind dünne Filme?

A

100nm bis einige mikro meter

22
Q

Welche 4 Beschichtungsverfahren für dünne Schichten gibt es?

A

PVD (Aufdampfen, Sputtern, Ion Plating) CVD Oxidation (von Silizium) Spin coater (Lackschleuder)

23
Q

Wofür steht PVD

A

Physical Vapor Deposition

24
Q

Wofür steht CVD

A

Chemical Vapor Deposition

25
Q

Nachteil von Tiegeln

A

Materialien mit sehr hohen Verdampfungstempersturen können nicht abgeschieden werden

26
Q

Elektronenstrahl Verdampfer

A

Erwärmt nur einen kleinen Fleck, sodass die Umgebung nicht mit verdampft wird

27
Q

3 Möglichkeiten zur Abscheidung von Stoffgemischen

A
  1. Gemisch verschiedener Materialien wird aus einem Tiegel verdampft 2. Aus verschiedenen Tiegeln gleichzeitig verdampft 3. Gas bei geringen Druck vorhanden, das mit verdampfendem Material reagiert (reaktiv Aufdampfen)
28
Q

Wie kann die Stöchiometrie bei verschiedenen Tiegeln reguliert werden?

A

Regelung der Heizungen

29
Q

Mittlere Freie Weglänge

A

Weg, den ein Teilchen zurücklegen kann, bevor es mit einem anderen kollidiert

30
Q

Zusammenhang Mittlere freie Weglänge und Druck

A

Je höher der Druck, desto früher kollidieren Teilchen. Somit ergibt sich eine höhere Streuung und niedrigere mittlere freie Weglänge

31
Q

Einfluss niedrigen Drucks beim Aufdampfen

A

Gerichteter Auftrag Hohe Teilchenenergie Bessere Haftung der Schicht Geringe Seitenwandbeschichtung (da wenig Streuung)

32
Q

Einfluss hohen Drucks beim Aufdampfen

A

Ungerichteter Auftrag Niedrige Teilchenenergie Geringere Haftung der Schicht Beschichtung von Seitenwänden

33
Q

Wie erreicht man beim Aufdampfen eine hohe Haftung?

A

Man wählt einen niedrigen Druck.

34
Q

Warum ist die Haftung beim reaktiven Aufdampfen eher gering?

A

Beim reaktiven Aufdampfen müssen die Teilchen mit Gasatomen zusammenstoßen.