Avanserte mikroskopiteknikker

Question 1

TEM

Answer 1

Elektronstråle sendes gjennom prøven, og transmitterte elektroner analyseres
Tynne prøver, høye forstørrelser (1 000 000x) og svært høy oppløsning (1 nm)
Kan se defekter, dislokasjoner og krystallplan
Diffrakterte elektroner gir info om krystallstruktur

Question 2

TEM - prøvepreparering

Answer 2

Tynne prøver (mikro/nanometer)
Pulver kan sees på direkte
Prøvepreparering er krevende og kan påvirke prøven

Question 3

TEM - bildedannelse

Answer 3

Bildet dannes ved at transmitterte elektroner treffer en fosfor-skjerm. Skjermen lyser der elektroner treffer
Digitalt kamera tar bilde når skjermen fjernes

Question 4

FIB-SEM (focused ion beam)

Answer 4

Ionestråle sendes mot prøven, vekselvirker og gir signaler
Kostbar og avansert teknikk
Destruktiv teknikk som kan ødelegge prøven

Question 5

Vekselvirkninger ionestråle og prøve

Answer 5

• Sekundærelektroner
  1. Sekundærioner (SI) og backscatter-ioner (BSI)
  2. Fjerner atomer fra prøven (sputtering)
  3. Dannelse av defekter
  4. Polymerisering
  5. Ion-implementering

Question 6

SPM (scanning probe microscopy)

Answer 6

En tynn spiss skanner over prøven og måler topografi med oppløsning ned mot 0,01nm
Kan se atomer og molekyler
Topografi av overflater
Kan se på biologiske prøver

Question 7

AFM (atomic force microscopy)

Answer 7

Holder tiltrekningskraften konstant, eller avstanden konstant mellom tip og prøve
Laserstråle detekterer høyde på prøven
Piezoelektrisk krystall som brukes til å endre høyde

Question 8

APT (atom probe tomography)

Answer 8

En prøve formet som en spiss
Laser fordamper prøven atomlag for atomlag
Alle snittbilder til sammen gir 3D-bilde av atomene i prøven (posisjon og grunnstoff)