AULA 6 - MEV, MET e AFM Flashcards
Qual a principal vantagem em se utilizar elétrons ao invés da luz para ampliar imagens?
Elétrons fornecem uma resolução até 1000 vezes maior que a luz.
O que pode ser observado em uma microscopia óptica?
Podem ser observados componentes estruturais de até 0,2 micrometros e a grande maioria dos defeitos cristalinos.
O que é o MEV? Quais as informações ele fornece?
MEV é a microscopia eletrônica de varredura.
Fornece uma análise rápida e direta da morfologia do material, sobre a estrutura topográfica e a composição química da superfície
Qual o princípio da análise de MEV?
Um feixe de elétrons é incidido sobre a amostra e se captura os sinais emitidos, como elétrons secundários e retroespalhados, raios-x, luz UV e IV, calor, elétrons conduzidos e absorvidos na amostra.
Os sinais são interpretados como quais características no MEV?
Esses sinais são interpretados como a morfologia superficial, composição química e organização estrutural.
Como funciona o equipamento do MEV?
Um canhão de elétrons é ligado, que emite um feixe de elétrons de alta energia, que são acelerados no interior da coluna.
O feixe é modelado por uma série de lentes eletromagnéticas, até chegar em micrômetros.
Na parte inferior da coluna, o feixe é controlado por scan coils, que varrem a superfície da amostra.
Os elétrons secundários são emitidos da superfície e o detector transforma os choques em impulsos elétricos recebidos, ampliando o sinal e o gabinete decodifica em imagem digital no monitor.
Qual a diferença entre o equipamento com imagem por SE ou BSE?
O SE (imagens por elétrons secundários) , a resolução é maior e de fácil interpretação, dando informações de topografia.
O BSE (imagens por elétrons retroespalhados) dá características da variação de composição
MEV precisa de preparação da amostra?
Sim, depende muito das características dela. Pode ser necessário cortar, moldar, polir, limpar e corroer a superfície, se for metálica.
O que é TEM ou MET? Qual o princípio?
TEM é a Microscopia Eletrônica de Transmissão.
Um feixe de elétrons penetra a amostra e passa por ela, sendo transmitidos. A recombinação dos feixes transmitidos e dispersos produz uma imagem de contraste de fase
Como funciona o equipamento de MET?
No topo da coluna, um filamento produz um fluxo de elétrons, que é focado por uma lente condensadora.
O feixe atinge a amostra e partes deles são transmitidas.
As lentes objetivas e projetivas transferem os feixes para uma tela fluorescente, sendo recombinada em imagem e lida no computador.
Como é o preparo da amostra para MET (4 etapas)?
A amostra é fixada em uma solução de glutaraldeído/tetróxido.
Em seguida é desidratada com altas concentrações de acetona ou álcool.
A amostra é então colocada em uma resina, para formar uma espécie de molde.
O bloco é cortado e se faz a contrastação com metais pesados.
O que é STM? Qual o princípio da técnica?
STM é Microscopia de Varredura por Tunelamento.
Uma ponta de tungstênio muito fina é posicionada quase tocando a superfície da amostra condutora.
Quando a distância de separação é próxima de 10ª, os elétrons da superfície tunelam para a ponta e vice-versa, gerando uma corrente de tunelamento.
Um sensor mede a corrente que passa.
O que é AFM?
AFM é Microscopia de Força Atômica.
AFM usa o princípio das interações entre as forças sonda-amostra para traçar a superfície.
Quais os 3 modos de operação do AFM?
- Contact mode: forças repulsivas, onde a sonda está em contato direto com a superfície
- Non contact mode: forças atrativas, onde a sonda não tem contato e nem as “ondas” geradas com a superfície
- Tapping mode: forças atrativas, a sonda não tem contato, mas as “ondas” sim.
Qual o tipo de preparo das amostras para AFM?
Preparo muito simples de amostra, podendo analisar condutores, isolantes e semicondutores, porque ele não chega a usar corrente de tunelamento, mas as forças de interação de superfície.
