Metoder för analys av sammansättning och struktur av material Flashcards
Ytavbildningsmetoder
SEM
CSI (Interferometri)
AFM
Ytanalysmetoder
EDS
ESCA
Jonstråleanalys
SEM
Svepelektronmikroskopi
In: Elektroner
Ut: Elektroner
Prov måste vara i vakuum
Svårt med magnetiska prover
3D bild
CSI
Coherence Scanning Interferometry
In: Fotoner
Ut: Fotoner
Ljus mot referensyta + prov som reflekterar till CCD camera (fotoner -> elektroner som sen tolkas)
Ser: Höjdskillnader, ojämnheter, djupaste gropar
AFM
Atomkraftsmikroskopi
In: Kraft (säger år spets hur mycket den ska deformera ytan)
Ut: Kraft
EDS
Energy Dispersive X-ray Spectroscopy
In: Elektroner
Ut: Röntgenstrålning
Berättar var och vad ämnet i prov är.
(Kompletterar SEM bra pga kan jobba på samma yta)
Kvalitativ
SEM + EDS -> vad kan mätas på ytan?
- Medelvärde över hela ytan
- Punktanalys
- Medelvärde över mindre område
- Linjesvep
ESCA (XPS)
Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
(X-ray Photoelectron Spectroscopy)
In: Röntgenstrålning
Ut: (foto)Elektroner
Ger info om vilket ämne och hur atomerna är bundna/strukturen.
(Går max 10 lager djupt. Kan ta bort lager för lager med ex laser (sputtra) men till slut blir ytan för ojämn och fotoelektronerna tar sig inte ut till detektorn iaf)
IBA
Jonstråleanalys
In: Joner (i hög hastighet, med hög eV)
Ut: Partiklar i olika tillstånd
(Mäter olika partiklar beroende på. T.ex. gamma, röntgen, hela atomer/joner som stöts ut etc. Kräver olika system och detektorer.
Kvantitativ.)
Kartlägga
Vanligt vid SEM + EDS
Färgar SEM bilden efter vilket och var ett ämne är (EDS) för att enklare kunna analysera ytan.
XRD
Röntgendiffraktion
In: Röntgen
Ut: Röntgen
Mäter hur röntgenstrålarna intefererar (negativt, postivt, inte alls) på alla vinklar för att veta avståndet mellan kristallplan
STM
Scanning Tunneling Microscope
Ut: elektroner/spänning
Mäter spänning från antalet elektroner som ’tunnlar’ från ytan till spetsen.
(Majoriteten används i ultra-high vacuum, nära absoluta nollpunkten men finns andra varianter)
