ITS les 4 safety deel 3 Flashcards
Wat bedoelt men met een 2-00-3 architectuur?
Als twee van de drie devices werken, dan wordt de veiligheidsfunctie nog vervuld.
Wat is een spurious trip?
Een ongwenste activering van een SIS bij een ongevaarlijke situatie van het te beveiligen proces
Voor de spurious trip rate λSPT gebruikt men vaak de formule: Zie blad
Verklaar waarom de term λDD in deze formule is opgenomen.
Bij detectie van een gevaarlijke fout moet het proces worden stilgelegd, omdat het SIS dan niet functioneert en doorgaan zeer gevaarlijk is.
Welke failure rate bepaalt de probability of failure on demand (λS , λD , λSD , λSU, λDD, λDU) ?
λDU
Wat wordt er bedoeld met een beta-factor bij redundante architecturen? Wat moet men doen om die zo klein mogelijk te houden ?
De beta-factor geeft aan welk deel van de failures het gevolg is van een gemeen-schappelijke oorzaak. Verschilende type (verschillende principewerking) sensoren / actuatoren kiezen
Welke factoren bepalen de vereiste redundantie (HFT = hardware fault tolerance) in een SIS ?
De safe failure fraction (SFF) en het SIL-niveau
De standaard IEC 61508 onderscheidt twee typen (klassen) van devices Welke?
Proven in use en not proven in use
Waartoe dient een risk graph?
Een risk-graph dient om het vereiste SIL-niveau te bepalen.
Een risk graph heeft 4 parameters (W, C, F en P) die het vereiste SIL niveau bepalen. Geef een beschrijving van deze 4 parameters.
-De demand rate W = freq. voorkomen gevaarlijke situatie zonder SIS
-De consequenties C van een ongeval
-Het blootstellings percentage F
-De de kans P dat de consequenties van een ongeval afgewend kunnen worden door
adequaat in te grijpen.
Voor een 1-00-2 architectuur geldt bij een β van 0: Zie blad
Waar komt de factor 1/3 vandaan?
De factor 1/3 ontstaat door de kans te middelen over de testperiode [0, T]
Voor een 1-00-2 architectuur is gegeven:
λ1 = λ2 = 7.10─6 /uur
Bereken de PFD avarage per year in geval:
a) er sprake is van onafhankelijkheid
b) de β-factor gelijk is aan 0,05
a) PFD = (1/3). λA . λB. T2 = (1/3). 7.10─6 . 7.10─6 . (365.24)2 = 0,00125
b) PFD = (1/2).β.λ.T + (1-β)2.(1/3). λ2 T2 =
(1/2). 0,05. 7.10─6 .365.24 + 0,952. (1/3). 7.10─6 . 7.10─6 . (365.24)2
= 0,00266
Bereken het de maximale waarde van de testperiode T voor een SIL 1 safety-toepassing
met:
-een sensor met MTTF= 60 jaar,
-een veiligheidsklep met MTTF=30 jaar,
-een veiligheidsplc met een PFD van 10 8‒ /hour; testperiode 10 jaar,
-alle componenten zijn “proven in use”.
(λsensor + λklep ). 0,5. T + 0,5. λplc .Tplc= 0,1
(1/60 + 1/30). 0,5. T + 0,5. 10 8‒ . 10.365.24 = 0,1 // T in jaren
0,025.T + 0,000438 = 0,1 => T= 3,98 jaar
