Microscopía Flashcards

1
Q

¿Qué es un microscopio?

A

Instrumento que amplifica las dimensiones de un objeto

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2
Q

Partes de un microscopio

A

La sonda, la interacción sonda - objeto y el sistema de detección

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3
Q

Tipos de microscopio en función de la sonda empleada

A

Microscopio óptico, microscopio electrónico y microscopio de campo cercano (punta)

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4
Q

¿Cuando se consigue interacción de la sonda con el objeto?

A

Para que haya interaccion los objetos deben ser del mismo tamaño

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5
Q

¿Qué envío y recojo de cada microscopio?

A

Óptico: envío fotones visibles y recojo fotones visibles
Electrónico: envío electrones y recojo electrones
De efecto túnel (campo cercano): envío una punta y recojo electrones

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6
Q

¿Cual es la distancia más pequeña a la que dos puntos pueden estar separados en una imagen?

A

Para la luz visible: la resolución es de 2 elevado a 10-4 mm que son 0,2 micras

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7
Q

¿De qué depende el poder de resolución máximo?

A

De la longitud de onda

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8
Q

Fórmula de la resolución

A

R = 0,61xlamda/nºxsen de alfa
nº es la intensidad de refracción
alfa es angulo de interacción con el objeto

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9
Q

¿Que microscopios emplean como sonda los electrones?

A

Los microscopios electrónicos. Hay dos: microscopio electrónico de barrido (SEM) y microscopio electrónico de transmisión (TEM)

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10
Q

¿Qué ocurre si empleo luz UV en vez de luz visible como sonda?

A

La luz UV tiene menos longitud de onda que la luz visible y por lo tanto la resolución aumenta. A menos longitud de onda más resolución

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11
Q

Fundamento de la sonda del microscopio electrónico de barrido SEM

A

Un haz de electrones de dimensiones nanometricas dirigido y focalizado sobre la muestra por una serie de campos electromagnéticos

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12
Q

Resolución del SEM

A

La longitud de onda de los electrones es inferior a la de la luz visible. La resolución es mayor y se observan objetos a escala de nm

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13
Q

Idea básica del SEM

A

Acelerar a altas temperaturas un haz de electrones y focalizarlo de manera que se pueda irradiar la muestra en un punto. Se realiza mediante procesos con electrones secundarios (mas superficiales), rayos x y electrones elásticos. El microscopio detecta y cuenta las partículas de un determinado tipo emitidas en cada uno de los puntos irradiados.

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14
Q

¿En que ambiente funciona el SEM?

A

En vacio

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15
Q

Instrumentación compleja del SEM

A

Al emplear electrones acelerados a altas temperaturas necesita fuentes de alimentacion muy potentes.

Al ser un sistema a muy baja presion para evitar desviaciones por el aire, el instrumento emplea bombas de vacío

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16
Q

Tipos de muestras en SEM

A

Muestras metalicas que requieren de una metalizacion previa.

Las muestras deben ser resistentes a la radiación de electrones para evitar deterioro.

17
Q

¿Cómo se forma la imagen SEM?

A

Por barrido

18
Q

Imagen SEM en función del material

A

A mayor número atómico mayor es la emisión del material. Hay contraste por diferente elemento químico.

19
Q

Imagen SEM en función de la forma

A

La emisión sobre una zona rugosa, borde o arista es mayor ya que hay mayor concentración de carga en esos puntos. Es un contraste topográfico.

20
Q

Máxima resolución del SEM

A

100 amperios

21
Q

¿De qué depende el contraste de la imagen en SEM?

A

En cada punto se recoge el número de electrones emitidos por la muestra. La emision es constante hasta que cambia la morfología o el material y se produce un cambio en el número de electrones recogidos por el detector. Mas carga mas negro en la imagen.

22
Q

¿Información que se obtiene de EDX?

A

Mediante la emisión de rayos X emitidos por la muestra se puede obtener informacion química (que elementos hay en la muestra y a que intensidad)

23
Q

Ventajas del SEM

A

1) Obtención de información sobre la superficie de la muestra
2) Fácil de operar e interpretar
3) Versátil
4) Diferentes tipos de información: topográfica por electrones secundarios y química por rayos X
5) Gran rango de magnificación

24
Q

Desventajas del SEM

A

1) Problemas de carga en muestras no conductoras
2) Necesidad de un recubrimiento metalico de 10 a 20 nm
3) Posible daño el material al calentar localmente la muestra
4) Necesidad de vació
5) Resolución limitada no atómica
6) Alto coste

25
Q

¿Qué electrones emplea la TEM?

A

Los electrones transmitidos, los electrones capaces de atravesar la muestra y se emplean la formación de la imagen

26
Q

Fundamentos de los electrones en TEM

A

Los electrones tienen poco poder de penetración, la absorción del medio es muy eficaz y existen muy pocos electrones transmitidos. Por ello el haz incidente debe ser de muy alta energia (80-400 kev), y hay que reducir al máximo el espesor de la muestra (20-60 nm)

27
Q

Imágenes obtenidas en TEM

A

Se pueden obtener imágenes de la estructura de la muestra, e imágenes de la difracción de la muestra

28
Q

Pasos en la preparacion de la muestra en TEM

A
  1. Adelgazamiento de la muestra por el escaso poder de penetración de los electrones y se reduce al máximo si espesor. Se realiza un adelgazamiento homogéneo cortando la muestra en láminas ultra finas de 20 a 60 nm
  2. Tinción previa si la muestra presenta compuestos que posean átomos pesados para mejorar la resolución
  3. Crio microscopía para mejorar la resolución
29
Q

Ventajas del TEM

A

1) Obtención de diagramas de difracción de la muestra

2) Resolución atómica

30
Q

Desventajas del TEM

A

1) Necesidad de muestras muy delgadas
2) Necesidad de preparación de las muestras (3 etapas)
3) Daño por el haz incidente muy energético
4) Necesidad de vacío
5) Muy costoso