Mesure et essais des DDR Flashcards
- Lors de la pose d’un DDR, que doit-on respecter pour son essai ? (Sans mesure)
Tester son fonctionnement par le bouton test régulièrement, voir les données du fabricant.
S’il existe aucune donnée de leurs parts, il faut le tester au moins une fois par année.
- Expliquer la procédure du contrôle de fonctionnement du DDR :
- Bouton test
- Faire son I∆n à 50% : ne doit pas déclencher
- Faire son I∆n à 100% : doit déclencher
- Vérifier les temps de coupure
- Quel doit être le temps maximum d’un DDR retardé ? Et à partir de combien de temps doit- il commencer à déclencher ?
DDR type S, temps maximum de déclenchement 500ms.
Il doit généralement déclencher à partir de 80 - 150ms.
- Qu’est-ce qu’un DDR de type « HI » ?
Un DDR de Haute Immunité, anciennement type G.
Fait pour les installations fortement inductives ou capacitives et dans les endroits orageux.
- Qu’existe-t-il comme DDR retardé ?
- DDR type K ou G, retardé d’environ 10ms, mais ne sont pas considéré comme retardé d’après la norme
- DDR type S
- Expliquer le fonctionnement d’un DDR retardé + son emplacement dans l’installation :
Il se place en série et en amont de l’installation.
Cela permet de ne pas couper toute l’installation, et laisse le temps au DDR en aval de couper le circuit concerné du défaut
Il faut attendre 30s après un défaut pour qu’il se réinitialise
- Est-il possible d’être sélectif avec deux DDR de 30mA ?
NON !
- Citer les temps de coupure généraux des DDR suivants :
- Non retardé :
- Action retardée type K ou G :
- Sélectif type S :
- Non retardé : 20 à 40ms
- Action retardée type K ou G : 30 à 50ms (retardé d’environ 10ms)
- Sélectif typs S : 80 et 150ms
- Citer les temps de coupure maximum et minimum pour des DDR non retardés :
- 1 x I∆n :
- 2 x I∆n :
- 5 x I∆n :
- 1 x I∆n : 6 – 300ms
- 2 x I∆n : 6 – 150ms
- 5 x I∆n : 6 – 40ms
- Citer les temps de coupure maximum et minimum pour des DDR sélectif type S :
- 1 x I∆n :
- 2 x I∆n :
- 5 x I∆n :
- 1 x I∆n : 130 – 500ms
- 2 x I∆n : 60 – 200ms
- 5 x I∆n : 50 – 150ms
- Expliquez le test du DDR sélectif avec un courant de 2x I∆n ?
Car en plaçant en cacade des DDR avec des I∆n différents, la limite de sélectivité se situe à la moitié de la valeur I∆n de celui placé en amont.
Ex :
Limite de sélectivité est à environ 150mA.
DDR I∆n 30 mA : 1 x I∆n : 6 – 300ms
DDR I∆n 300mA : 1 x I∆n : 130 – 500ms
DDR I∆n 30 mA : 2 x I∆n : 6 – 150ms
DDR I∆n 300mA : 2 x I∆n : 60 – 200ms
DDR I∆n 30 mA : 5 x I∆n : 6 – 40ms
DDR I∆n 300mA : 5 x I∆n : 50 – 150ms
- Expliquer pourquoi le temps entre la mesure à 50% et 100% est de 30s pour un DDR type S ?
Manuel Fluke 1664 FC
Pour éviter un temps de déclenchement inexact des différentiels de type S (à retard), une temporisation de 30 secondes est prévue entre le test préliminaire et le test réel.
Ce type de disjoncteur nécessite un délai car il contient des circuits RC qui doivent se stabiliser avant d’effectuer le test.
- Expliquer le principe des mesures du courant de déclenchement du différentiel par test de rampe :
Manuel Fluke Gamme de courant : 1. Type A I∆n 10mA : 30 – 150% 2. Type A I∆n >10mA : 30 – 210% 3. Type B : 20 – 210% Taille de pas : 1. Type A : 10% 2. Type B : 5% Temps de repos : Type G : 300ms/pas Type S : 500ms/pas
Gammes de courant de déclenchement spécifiées (EN 61008-1) :