Lagzeitstabilität Flashcards
Welche mkrostrukturellen/chemischen Veränderungen treten in der Zelle auf?
Kathode verdichtet sich, Elektrolyt entmsicht sich, Ni diffundiert bei Anode/Ele und lagert sich an der Anode an, Kathodenschicht löst sich ab
Was sind Konsequenzen der Degradierung?
Zellspannung nimmt bei gleichem Strom ab
Was ist bei neuen Zellen zu beobachten?
Formation: Spannung steigt kurz (in den ersten 50 Stunden) auf höheres Niveau (OCV), pendelt und nähert sich dann der “Nennspannung” von unten
In welchem Zeitraum liefert die Zelle die maximale Leistung?
bis ca. 3000 Betriebsstunden, sinkt dann linear
Wie verändert sich die Grenzfläche Kat/El bei der Formierung?
Lanthanzirkonat-Schicht wird abgebaut, es entstehen Mikroporen
Formel Brenngasausnutzung Augang Anode
Konzentration H2O * 1 / (1+H2) (wenn kein H2, dann 100% Ausnutzung)
Zusammenhang Stromdichte, Spannung, Brenngasausnutzung und Degredationsrate (in mV/1000h)
Je höher die Spannung, desto besser die Brenngasausnutzungskurve abhängig von Stromdichte. Stromdichte erhöht BG-Ausn.
Degredation verringert BGA
Wie stark lagert sich Ni an der Anode an?
nach 1000 Stunden sind 20% der Fläche damit bedeckt!
Was versteht man unter Redox-Stabilität?
Ni oxidiert mit O2 aus der Luft bei Stillstand. Im Betrieb wird es reduziert, da kein O2 mehr in der Luft ist (wird größer)
Problem: Anode zerbricht.
Wie hat die Sintertemperatur Einfluss auf die Länge der Ni/YSZ-Bulks?
geringste Sintertemperatur hat geringste Vergrößerung durch Oxidation zur Folge
Wie degrdiert die Zelle durch Hydrocarbone?
Aufkohlen durch CnHm
CV-Charakteristik nach vielen Zyklen? warum?
Zellspannung fällt nach vielen Zyklen schneller gegenüber der Stromstärke ab aufgrund Degredation der Kathode.
Was ist das Problem bei Langzeittests? Lösung?
Dauern lange, kosten viel. -> Accelerated Life testing durch höhere Stressbelastungen und Vorhersagen
Soft failure / hard failure
Soft failure: Leistung nimmt ab, ist definitionsgemäß bei Time-To-Failure-Event kaputt, wenn kritische Grenze unterschritten wird
Hard failure: failure event = kaputt (z.B. Glühbirne)
Herausforderung beim accelerated testing
man könnte einen falschen Alterungsprozess betrachten, extrapolation auf nominalen Stress könnte falsch sein